
產品型號:AL-3500
更新時間:2026-05-26
廠商性質:生產廠家
訪 問 量 :50
0415-3141333
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該設備專為晶圓生產品質設計,利用高精度X射線技術,無損透視材料內部晶格結構,可離線/全自動測量單晶硅/碳化硅/氮化鎵等多種材質裸晶圓內部缺陷,可以檢查內部微裂紋/位錯/夾雜物/微管/沉淀物/滑移/堆垛層錯/表面劃痕/亞晶粒等缺陷,并自帶算法,可提供非標定制服務。
單晶硅內部缺陷檢測
碳化硅內部缺陷檢測
氮化鎵內部缺陷檢測
晶圓內部微裂紋缺陷檢測
晶圓內部位錯缺陷檢測
晶圓內部夾雜物缺陷檢測
晶圓內部微管缺陷檢測
晶圓內部沉淀物缺陷檢測
晶圓內部滑移缺陷檢測
晶圓內部堆垛層錯缺陷檢測
晶圓內部表面劃痕缺陷檢測
晶圓內部亞晶粒缺陷檢測
晶圓全自動測量與缺陷分析
反射式X射線衍射成像系統(XRDI)